菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY

菲希爾X射線測厚儀特點

Fischerscope X-RAY根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

菲希爾X射線測厚儀采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器

準直器：固定或4個自動切換

Fischerscope X-RAY初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

Fischerscope X-RAY用于光學觀察測量點的攝像頭

經認證的全面防護設計；

菲希爾X射線測厚儀應用

Fischerscope X-RAY電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

>電子行業連接器和觸點上的鍍層

菲希爾測厚儀Dualscope MP0如：

1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。

3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。

5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。