fischer x射線鍍層測(cè)厚儀

fischer x射線鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischerscope X-ray XDL230有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

菲希爾x射線測(cè)厚儀比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

Fischer x射線測(cè)厚儀由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。

高精度涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無(wú)損測(cè)量?jī)x,組件清潔度測(cè)試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測(cè)量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量?jī)x、光譜儀、高度計(jì)、通用長(zhǎng)度測(cè)量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無(wú)損檢測(cè)儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測(cè)量?jī)x、材料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測(cè)量?jī)x器。

X射線熒光分析法 (XRFA)

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能更好勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。