泰勒霍普森粗糙度儀|泰勒surtronic duo

Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度測(cè)量儀被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、工業(yè)廠房和檢測(cè)室。Surtronic Duo II 可用于評(píng)估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓(xùn)。Surtronic Duo II  數(shù)字式表面粗糙度測(cè)量儀專門用于測(cè)量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評(píng)估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測(cè)量儀的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。

傳感器范圍: 200um
分辨率: 0.01um
不確定度: 讀數(shù)的5%+0.1um (4uin)
傳感器類型: 壓電式
傳感器接觸力: 200mg
測(cè)針類型: 金剛石
測(cè)尖半徑: 5um (200uin)
截止波長: 0.8mm±15% (0.03in±15%)
過濾類型: 2CR
測(cè)量行程: 5mm (0.2in)
測(cè)量速度: 2mm/sec (0.08in/sec)
顯示單位: mm/ uin
電池壽命: 500小時(shí)/10000次操作
可測(cè)量參數(shù): Ra; Rz (112/2916-03配置)
Ra; Rz; Rv; Rp; Rt (112/3115-01配置)
儀器尺寸: 125×80×38mm (4.92×*×1.5in)
重 量: 200g